小同軸屏蔽效能測(cè)試裝置

產(chǎn)品詳細(xì)描述：

產(chǎn)品介紹：適用于屏蔽織物、金屬薄板、非導(dǎo)電材料表面涂層或鍍層、金屬網(wǎng)、導(dǎo)電膜、導(dǎo)電玻璃、導(dǎo)電介質(zhì)板等平板型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測(cè)量
適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 30142-2013、GJB 6190-2008、GB/T 25471-2010、ASTM 4935-2010（更替ASTM 4935-99）等參考適用；

產(chǎn)品特點(diǎn)：

HDS-85小同軸屏蔽效能測(cè)試裝置是美國(guó)材料試驗(yàn)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)ASTM4935規(guī)定的法蘭同軸的高頻延伸版本，高精密加工的同軸法蘭部件在測(cè)試頻率范圍內(nèi)具有非常小的駐波比和非常低的插入損耗，有效的保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性與準(zhǔn)確性，測(cè)試裝置核心部件鍍金處理，保證良好性能的同時(shí)具備美觀耐用性。

技術(shù)參數(shù)：

1. 測(cè)試頻率范圍：按標(biāo)準(zhǔn)在30MHz～8GHz內(nèi)使用（可在9kHz～10GHz內(nèi)使用，醉大駐波比不大于1.6）

2. 醉大駐波比（VSWR）：＜1.15（30MHz～8GHz）

3. 插入損耗：＜0.8dB（30MHz～8GHz）

4. 外形尺寸：200mm×94mm（L×D）

5. 重量：3kg

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