四軸定位IC掃描儀

]資料

點擊看大圖

如果您對該產品感興趣的話,可以

產品名稱: 四軸定位IC掃描儀
產品型號: ICS 105 set
產品展商: Langer
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達50μm。

四軸定位IC掃描儀

的詳細介紹

ICS 105 application with CS-Scanner software
ICS 105 with SH 01 probe holder
ICS 105 with UH DUT universal holder
ICS 105 set with UH DUT universal holder and device under test

ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結果。此外，探頭可自動旋轉以確定磁場的準確方向。可單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達 50μm。

Technical parameters

電源電壓	110 / 230 V
接口	USB
大過程路徑	(50 x 50 x 50) mm α-Rotation ±180°
小過程路徑	(10 x 10 x 10) μm α-Rotation 1°
移動速度	(10 x 10 x 5) mm/s α-Rotation 90°/s
重量	23 kg
尺寸 (L x W x H)	(350 x 400 x 420) mm
3D-掃描
表面掃描

產品留言

標題

聯系人

聯系電話

內容

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

相關產品

IC電磁發射測試系統 IEC61967-6
IC電磁發射測試系統 TEM小室法
IC測試板 HS61967-1
IC電磁發射測試系統 1Ω/150Ω直接耦合法
IC脈沖群抗擾度測試系統 HS62215

IC電磁發射測試系統 IEC61967-6

IC電磁發射測試系統 TEM小室法

IC測試板 HS61967-1

IC電磁發射測試系統 1Ω/150Ω直接耦合法

IC脈沖群抗擾度測試系統 HS62215

產品目錄

聯系我們

深圳市華瑞高電子技術有限公司地址：深圳市龍華新區布龍路與龍觀路交匯處展潤商務大廈702 郵編：518133
電話：13316563358 傳真：0755-22142490 粵ICP備13037693號